Título: “Caracterização de sínter por análise de imagens via microscopia ótica e eletrônica”

Palestrante: Beatriz de Barros Oliveira
Orientador(es): Ismael Vemdrame Flores e Otávio da Fonseca Martins Gomes
Data: 29/05/2023
Horário: 14:00h
Local: Centro de Tecnologia - UFRJ

Banca Examinadora:
Ismael Vemdrame Flores, D.Sc. PEMM-COPPE/UFRJ
Otávio da Fonseca Martins Gomes, D.Sc. CETEM/MCT
Leonardo Sales Araujo, D.Sc. PEMM-COPPE/UFRJ
Karen Soares Augusto, D.Sc. DEQM/PUC-RIO