O Programa/Departamento de Engenharia Metalúrgica e de Materiais tem a honra de convidar toda a comunidade para a palestra: Breaking Resolution Limits with Topological Materials.

A ser proferida pela Profa. Kayla Nguyen, Department of Physics, University of Oregon.

Data: 10/10/2024
Local: Sala F222
Horário: 15:00h

Abstract: Electrons play a pivotal role in stabilizing matter, but they are also tools that can reveal the underlying physics of complex systems from high energy physics to condensed matter. Electrons can be used as imaging probes, where properties of matter such as ferroelectricity, magnetism or topology can be observed atom-by-atom. In this talk, I will discuss a new type of electron probe which can image orbital angular momentum, torque transfer and chiral order of topological structures in ferroelectrics. I will also show how electron ptychography, an iterative computation imaging technique, can improve resolution beyond the numerical aperture of the electromagnetic lenses to the sub-angstrom limit in a conventional electron microscope. Using this technique, we essentially develop a ‘computation lens’ approach to imaging, opening opportunities to explore new physics in emergent materials beyond physical lenses in a cost-effective manner, and thus expanding access to high-resolution imaging approaches to a broader range of institutions.

Resumo: Os elétrons desempenham um papel fundamental na estabilização da matéria, mas também são ferramentas que podem revelar a física subjacente de sistemas complexos, desde a física de altas energias até a matéria condensada. Os elétrons podem ser usados como sondas de imagem, onde propriedades da matéria, como ferroelectricidade, magnetismo ou topologia, podem ser observadas átomo a átomo. Nesta palestra, discutirei um novo tipo de sonda eletrônica que pode imagem o momento angular orbital, a transferência de torque e a ordem quiral de estruturas topológicas em ferroelettricos. Também mostrarei como a pticografia eletrônica, uma técnica de imagem computacional iterativa, pode melhorar a resolução além da abertura numérica das lentes eletromagnéticas, chegando ao limite sub-angstrom em um microscópio eletrônico convencional. Usando essa técnica, desenvolvemos essencialmente uma abordagem de "lente computacional" para a imagem, abrindo oportunidades para explorar novas físicas em materiais emergentes, além das lentes físicas, de forma econômica, expandindo assim o acesso a abordagens de imagem de alta resolução para uma gama mais ampla de instituições.

Publicado em 02/10/2024.